一 伽罗篇 八十 反接双结字符组合(五)

御魔史话 京余 1886 字 2个月前

“以’多键-多穴-多键’结构为例,想象’多穴晶体’的厚度比’多键晶体’薄上很多,而且’多穴晶体’的热掺杂率远远小于’多键晶体’。

“为了表述方便,可以把该结构竖直起来,按照元流传输方向,从上到下将三段晶体分别称为’集键区’、’基区’、’发射区’。

“’集键区’与’基区’之间是第一个’键穴结’,可称为’上方结’;’基区’与’发射区’之间是第二个’键穴结’,可称为’下方结’。

“在’基区’与’发射区’之间外接正向元压Va,构成第一个回路,其中元流记为Ia;在’集键区’与’发射区’之间外接正向元压Vb,构成第二个回路,其中元流记为Ib,该回路总元压为Vc,并且串联一个’阻’字符,起到分压作用;再将这两个回路于’发射区’后端媾合,共地相连,则’发射区’后端的元流为Ia与Ib的和。

“这种使用形式在’反接双结字符组合’中极为常见,可以叫做’共发射区回路模式’,图示如下…

“’反接双结字符组合’的典型应用,便是输入元流对于输出元流的放大作用,在上述回路模式中,便是元流Ia对于元流Ib的放大作用,我们可以简要分析一下:

“调整回路,使得元压Vc大于元压Vb大于元压Va,且元压Vb与元压Vc的差值大于’上方结’的反向偏置元压,则’上方结’呈反向导通状态,’下方结’呈正向导通状态。

“前面说过,’基区’很薄且热掺杂率很小,则’下方结’中形成键子多而空穴少的局面,大量键子在外加元压的作用下进入’基区’,只有很小一部分填补进空穴;

“而’上方结’由于是反向导通状态,与’下方结’的元流方向相同,所以两个’键穴结’中的键子迁移方向也相同,在适当元压的作用下,’下方结’中的大量多余键子便会穿过’基区’,进入到’上方结’中。

“如前所述,这种键子迁移作用是晶体内部元流的一种可能形式,而且键子迁移作用越高,内部元流也就越大。

“从’下方结’到’上方结’的键子迁移形成的元流,与’上方结’中本身存在的反向饱和元流加在一起,便是’共发射区’回路模式中,第二个回路的输出元流。

“在这种情况下,由于’下方结’中的大量键子进入到第二个回路当中,第一个回路中的键子迁移作用便明显很少,根据回路中元压值的设置,以及上述’键穴结’的思想,可以近似认为,第一个回路中的元流只由少量键子与少量空穴结合产生,而且’下方结’中的少量键子填入’基区’空穴后,又在外加元压Va的作用下,源源不断流出’下方结’,’下方结’的空穴便也源源不断出现,从而持续驱动整个回路,使得总体的键子迁移作用持续下去。

“’上方结’中的反向饱和元流极小,在计算中可以忽略,则元流Ib可近似为从’下方结’到’上方结’的大量键子迁移,而元流Ia是’下方结’中的少量键子迁移,元流Ia与Ib之间近似拥有一种比例关系,即Ib=α*Ia,这个α,便是’反接双结字符组合’中的’元流放大系数’。”

“当然,不同形式的’反接双结字符组合’在实际使用中,拥有不同的’元流放大系数’,归根结底却只是’结’字符绘制形式的不同,在’键穴结’思想中,’元流放大系数’也受到三段晶体的厚度与热掺杂率的影响,从而出现不同的数值。

“上述部分是’反接双结字符组合’的基础,可以看到,其输入元压是直流形式、内部元流也固定不变,可以称为’反接双结字符组合’的’静态工作点’。

“在魔法阵学中,输入的元力都是波动的,具有一定频率的带宽,在数论思想上,可以将其分解为线性叠加的两部分——即具有一定幅度的直流成分,以及与坐标横轴上下对称的交流成分。

“根据法神大人的’元力频率理论’,元力中的直流成分代表着元力强弱,而交流成分才是区分元力的重心,你应该知道,’容’字符具有隔绝直流成分、无损传输交流成分的特性,所以在实际阵法之中,一般会在输入元流与’反接双结字符组合’之间,串联一个适当大小的’容字符’。

“当输入元流的交流成分进入’反接双结字符组合’之后,会首先与回路中的固有元流——Ia叠加,当Ia大小超过交流成分峰值时,回路中的元流虽然具有波动性,却始终为正值,满足元流放大作用的先决条件。