第280章 悲催的实验结果

当结束老化实验之后,技术人员将这些芯片一一取出,然后每10颗为一组进行性能压力测试。这一阶段的测试主要就是来判断芯片在出现老化之后,是否还能够保持最初的性能。

实际上半导体芯片的性能是很难因为老化而下降的,尤其是处理器在正常使用的情况下寿命可以超过10年。大部分处理器一直用到退役也不会出什么问题。

然而当第一组10颗芯片的测试结果出来之后,侯广来教授的脑门上就冒出冷汗。

因为这10颗芯片,居然全部出现了性能下降的现象,最严重的的性能下降了80%,最乐观的也下降了50%左右。

看到这一结果,旁边的技术人员也开始小声交流,大家的脸色也都不好看。

过了好一会儿,侯教授才开口道:“不要停,继续测试。”

第二批10颗芯片的测试结果也很快出炉:这回比第一批更惨,老化最严重的一颗已经完全报废,无法正常使用了。

这一结果让所有人都沉默了,不过侯广来并没有示意停止测试,所以技术人员很快就开始了第三组的10颗芯片测试。

接下来是第四组、第五组……一直到第十组!

最终结果简直是触目惊心,参与测试的100颗“乘黄2”芯片无一幸免,全部都出现了性能大幅下降的现象,即使最轻微的一颗也下降了45%,另外更是有15颗芯片完全报废。

这还只是模拟了1年后的老化情况,如果实验的时间更长一些的话,恐怕这100颗芯片全部都会“阵亡”!

“是不是实验的方法有问题?”一名技术员小声说道,“或许是设置的测试环境参数太过严苛了,正常情况下咱们的芯片也不会在超过100c的高温高湿环境中使用吧?”

这句话引起了不少年轻技术员的赞同,但是侯广来和一些老技术员却很清楚,100c的高温对于人类来说自然是无法忍受,但是对于半导体芯片却并不夸张。很多处理器的核心运行温度就能轻松超过100c了。